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        • 薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀LJD系列 介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

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          產(chǎn)品價格:面議
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-02-09
        • LJD系列高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

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          產(chǎn)品價格:面議
          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-02-09
        • LJD型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

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          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-02-09
        • LJD型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) 工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

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          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-02-09
        • 陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GB/T1409在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。

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          更新日期:2025-02-09
        • GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀介紹是我公司 研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能

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          更新日期:2025-02-09
        • 介電常數(shù)測定儀LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。 測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。

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          更新日期:2025-02-09
        • 介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 10KHZ-70MHZ *2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù) 3.Q值測量范圍:1~1023 4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

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          廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
          更新日期:2025-02-09
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